主要规格及技术指标

晶格分辨率指标为 0.1nm；点分辨率满足 0.23nm ；冷场发射 JEM F200 的 S TEM 指标：200KV 下 BF的指标为 0.16nm， HAADF的指标为 0.16nm；JEMF 200的最小束斑尺寸的指标为 0.5nm；JEMF200 在 200KV 下放大倍数误差范围为小于 10%；F200 所配备的能谱的能量分辨率指标为 133 eV

主要附件及配置

无

主要功能及特色

高分辨透射电子显微镜主要用于纳米材料的微结构表征研究和检测。采用该设备，纳米材料的内部结构、尺度分布、形貌、暴露晶面、组成分布可以精确的表征出来。