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实验管理中心（测试中心） / JEM-2010透射电子显微镜
JEM-2010透射电子显微镜
仪器编号
20032525
规格
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEM-2010
制造国家
日本
购置日期
2004-12-09
放置地点
Array 新城校区图书馆丙座107
出厂日期
2004-08-04
主要规格及技术指标
点分辨率0.23nm,晶格分辨率0.2纳米。
主要附件及配置
Gatan 831高分辨相机（2.4K*2.4K）,牛津能谱仪，Gatan 652原位加热杆
主要功能及特色
可以对晶体材料进行形貌，晶体结构，高分辨像（HRTEM）,能谱（只限点分析），原位加热电镜观察（室温-900度）。
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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暂无收费标准
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