场发射扫描电子显微镜
仪器编号
TY2023007003
规格
生产厂家
美国赛默飞(FEI)
型号
FEI-Apreo 2S HiVac
制造国家
捷克
购置日期
2023-12-16
放置地点
Array 工程技术楼A座113
出厂日期
2023-11-02

主要规格及技术指标

末级透镜:复合式(静电、浸没式磁场的复合透镜)
高真空:30 kV (STEM) , 0.7 nm;15 kV (BD),0.5 nm;15 kV(6.4 nA,WD 10 mm),1.9 nm;1 kV,0.9 nm;1 kV (BD),0.8 nm;1 kV(BD,WD 10 mm),1.0 nm;500 V (BD) ,0.8 nm;200 V (BD) ,1.2 nm。
低真空:3 kV (30 Pa),1.8 nm;15 kV (30 Pa),1.2 nm。
电子束参数:• 电子束电流范围: 1 pA - 400 nA;• 加速电压: 200 V – 30 kV;
• 着陆能量范围: 20 eV – 30 keV;• 最大水平视场宽:10 mm 工作距离下为 3.0 mm(对应于 最小放大倍率 x29);• 10mm 分析工作距离 1kV 时电子束分辨率: 1nm。

主要附件及配置

扫描透射电子显微镜 Scanning Transmission Electron Microscopy(STEM 3+)
能谱仪 Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
电子背散射衍射系统 Electron Back-ScatteredDiffraction (EBSD)

主要功能及特色

对于大多数样品都能达到纳米或亚纳米级别的空间分辨率。主要用于微纳米尺度表面形貌和元素分析的仪器,具有优异的空间分辨率、立体感好、时间成本低等优势。

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准