扫描探针显微镜
仪器编号
20150579
规格
生产厂家
布鲁克
型号
MULITMODE8
制造国家
美国
购置日期
2015-03-15
放置地点
Array 工程技术楼A座 204
出厂日期
2014-04-15

主要规格及技术指标

扫描器.1)扫描器范围:
提供三个独立的扫描器
大范围扫描器: XY方向扫描范围大于120um, Z方向不小于5um
高分辩扫描器: XY方向扫描范围大于10um, Z方向不小于2.5um
SPM控制系统及功能
智能扫描功能(Scan Asyst),自动追踪样品表面特征,根据样品表面特征,自动设定扫描,用户只需要选择扫描速度及扫描范围,系统即可自动调整反馈,无需寻找共振峰,无需调整反馈参数gain值( 可直接液体环境成像)

主要附件及配置

主要功能及特色

扫描探针显微镜(SPM)能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面微区(纳米及微米尺度)三维形貌.同时可对样品表面物理化学特性进行研究,能测试多种材料如金属材料、复合材料、纤维材料、膜材料、生物材料、地质有机质、高分子材料等多种物性。包括表面组分区别、温度、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力和其他表面力以及电化学相互作用力的测量

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准