主要规格及技术指标

主要用于测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况;可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究

主要附件及配置

2θ角重复精度：0.0001°；
最小步进角度：0.0001°；
温度控制范围：100K—300K
控制精度：±0.3K

主要功能及特色

整机采用可编程序控制器PLC控制技术；
操作方便，一键式采集系统；
模块化设计，配件即插即用，无需校准；
触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；
高功率X射线发生器，性能稳定可靠；
电子铅门联锁装置，双重防护。