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差示扫描量热仪
仪器编号
20151288
规格
生产厂家
美国TA公司
型号
Q2000
制造国家
美国
购置日期
2015-12-26
放置地点
Array 实验楼110-2
出厂日期
2014-12-26
主要规格及技术指标
测温范围：-80°C～400°C
升温速率：0.1 ～30℃/min
温度精确度：±0.5℃
量热精确性（铟标准金属）：±0.05％
数字分辨率：0.01µW
量热动态范围：±350mW
主要附件及配置
电脑、氮气、电子天平、制样台、样品盒
主要功能及特色
材料的热性能测试。有机高分子材料的相转变,如结晶聚合物的熔融与结晶,非晶聚合物的玻璃化转变,能定量检测相变焓,此外还可用于材料比热的测试.
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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暂无收费标准
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