主要规格及技术指标

点分辨率：0.25 nm，线分辨率：0.14 nm，STEM分辨率：0.16 nm。

主要附件及配置

Super-X能谱仪、STEM探头。

主要功能及特色

具有TEM明场(BF)、TEM暗场(DF)、选区电子衍射(SAED)、TEM高分辨(HRTEM)、STEM环形明场(ABF)、STEM环形暗场(ADF)、STEM高角环形暗场(HAADF)和EDS-mapping功能。可在微米、纳米尺度下对粉体和块体材料进行快速准确的形貌观察、晶体结构分析，配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析。