采用实时角度校正系统、小型探测器和探测器单色器等,显著提高了角度精度、强度、峰背强度比等。配置Cu靶材,Ni Kβ射线滤光片,焦斑尺寸1×10mm(常规焦斑)、0.4×8mm(细焦斑)等,2θ测试范围+2°~+145°,测试速度0.01~100°/min。
无
该设备可广泛用于粉末样品、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、高分子材料或其他材料等多晶的衍射图比较、定性分析、定量分析,以及原料和产品的质量控制等方面。